對于航空插頭，在各個電器組件中的應用是比較廣泛的。在實際使用中，經常會出現接頭過熱等情況。對于這種情況，我們歸納起來主要有以下幾種原因：

　　一、連接器表面保護涂層失效，導致連接器接點發(fā)生腐蝕。

　　二、化學與電化學腐蝕：純凈金屬在大氣環(huán)境中，因其熱力學不穩(wěn)定性，都具有從高能狀態(tài)向低能狀態(tài)過度的趨勢，因此金屬在大氣環(huán)境中發(fā)生腐蝕過程是一種自然規(guī)律。金屬的腐蝕一般存在兩種情況，即化學腐蝕和電化學腐蝕。由于化學腐蝕的速度極其緩慢，因此不會構成接頭發(fā)熱的主要因素。而電化學腐蝕系統自成回路，有腐蝕電流產生，使陽極不斷離解，使腐蝕有可能不間斷地進行下去，于是連接器接頭面積會趨于減少，而不時過程中產生和積累的沉積膜以及陽極金屬表面產生的鈍化膜，會是連接器接頭的接觸電阻顯著增大，使接頭的溫升顯著提高，并產生惡性循環(huán)，成為接頭發(fā)熱的主要構成因素。

　　三、金屬磨損：由于外力作用或金屬本身的熱脹冷縮以及負荷在高峰與低谷間的波動的沖擊，會使連接器接頭的接觸點越來越少。其結果是航空插頭接頭接觸面上被腐蝕的地方逐漸增多，因此接觸電阻逐漸增大，接頭處溫升逐漸增高。

　　對航空插頭失效品和正常品進行高溫試驗,高溫冷卻后的樣品測試絕緣,分別和結果表明,故障產品含有一定量的水分在航空插頭,與此同時,水的存在和高溫會降低航空插頭的絕緣電阻。

　　然后對航空插頭故障產品拆卸實驗,發(fā)現航空插頭剩余內部絕緣組件有淺藍色的腐蝕,光一層金屬薄膜,失敗航空插頭之前和之后的拆遷封裝膠絕緣電阻測試,結果表明,失敗后拆卸航空插頭的絕緣合格,并封裝膠測試其絕緣電阻是正常的。

　　所有金屬部件的航空插頭EDS測試,結果表明,金屬條的金屬部件的表面鍍銀的銅鋅合金,和其他金屬部件沒有銅鋅銀原料,淺藍色的腐蝕,和遷移的銀膜是金屬與金屬接觸一條組件,所有組件的絕緣,紅外分析結果表明,該絕緣組件分別有聚酯,硅膠,PVC(封裝膠),分別對封裝膠和正常封裝脫膠商品用于離子色譜分析,結果表明,氯離子含量的失敗產品包裝膠是正常產品的1.8倍,潮濕環(huán)境中氯離子的存在會大大促進金屬部件的腐蝕和離子導電路徑的形成。